Abstract
(Italian) | E' noto che per i circuiti sequenziali impulsivi sono possibili diverse rappresentazioni degli stati di ingresso [1]. Nel caso dei circuiti a due stati di ingresso, che comprendono in particolare gli elementi di memoria, le possibili rappresentazioni si riducono a due. In un caso gli stati sono rappresentati da un livello di tensione che può assumere due valori, mentre il comando temporale viene fornito su un altro terminale, mediante un impulso, dopo che il livello è completamente stabilizzato. Nel secondo caso ognuno dei due stati è rappresentato da un impulso; gli impulsi devono essere inviati a tempi diversi e su due diversi terminali. Ne segue che tutti i circuiti sequenziali impulsivi a due stati di ingresso possono essere provati disponendo dei due gruppi di forme d'onda di fig. 1. Queste forme d'onde rappresentano l'andamento nel tempo delle variabili di ingresso della parte combinatoria del circuito sequenziale. Poiché ogni variabile può intervenire in forma vera e falsa, le forme d'onda di fig. 1 devono essere fornite con polarità normale e invertita. Inoltre, data la diversità delle possibili realizzazioni elettroniche di un circuito sequenziale, è necessario che le forme d'onda abbiano ampiezza variabile e possano essere comprese tra il potenziale zero e un potenziale positivo oppure negativo. Per lo stesso motivo il campo della frequenza di impulsazione f deve essere abbastanza vasto ed è utile che i rapporti T/T, TA/T, TH/T (vedi fig. 1) possano essere variati. Forme d'onda con queste caratteristiche elettriche sono difficilmente ottenibili con i normali strumenti di laboratorio o, in ogni caso, richiedono più strumenti e un lavoro di messa a punto. Per ovviare a questo inconveniente è stato realizzato un semplice strumento che viene qui descritto. Esso permette di provare i circuiti sequenziali impulsivi a due stati di ingresso a frequenze di impulsazione comprese tra 1 MHz e 50 MHz.
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